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復(fù)合式三次元丈量?jī)x上測(cè)頭的校準(zhǔn)還包括接觸式測(cè)頭和非接觸式測(cè)頭間位置關(guān)系的確定。因?yàn)槎鄿y(cè)頭復(fù)合式三坐標(biāo)丈量機(jī)在統(tǒng)一臺(tái)機(jī)器上將接觸式測(cè)頭和非接觸式測(cè)頭組合為同一的有機(jī)體，而且在非接觸測(cè)頭中還可集成激光掃描測(cè)頭，各種測(cè)頭又可隨時(shí)切換，因而展現(xiàn)出極高的靈活性，并使得三次元丈量機(jī)的應(yīng)用范圍進(jìn)一步擴(kuò)大。
我們知道，在三次元丈量機(jī)的丈量?jī)煞N，測(cè)頭在其中施展著重要的作用，好的三坐標(biāo)的測(cè)頭可以讓三坐標(biāo)丈量機(jī)的丈量結(jié)果更加的精準(zhǔn)，所以選擇合適的三坐標(biāo)丈量機(jī)的測(cè)頭是十分必要的。可以猜測(cè)，此種測(cè)頭復(fù)合式三坐標(biāo)丈量機(jī)有廣闊的發(fā)展遠(yuǎn)景。
近年來(lái)，跟著CCD攝像丈量、計(jì)算機(jī)圖像處理、計(jì)算機(jī)可編程控制光學(xué)照明、激光掃描丈量等高新技術(shù)的發(fā)展，已經(jīng)使非接觸三坐標(biāo)丈量機(jī)在解決第二類(lèi)丈量題目時(shí)的合用性、正確性和高效率足以與接觸式三維影像丈量?jī)x在解決第一類(lèi)丈量題目時(shí)相媲美，并還使得非接觸式丈量由原來(lái)的純二維丈量發(fā)展為三維丈量技術(shù)。
復(fù)合探測(cè)的含義是三坐標(biāo)丈量?jī)x在統(tǒng)一工件的丈量中既使用接觸式也使用非接觸式測(cè)頭采集丈量點(diǎn)，丈量過(guò)程中兩種測(cè)頭可按需要隨意切換，甚至可以在統(tǒng)一個(gè)被測(cè)要素頂用兩種測(cè)頭采集丈量點(diǎn)。接觸式測(cè)頭的校準(zhǔn)是通過(guò)對(duì)一個(gè)已知直徑的尺度球進(jìn)行丈量實(shí)現(xiàn)的，以此來(lái)確定每一測(cè)針的球徑和各測(cè)針球心的相對(duì)位置;而非接觸測(cè)頭的校準(zhǔn)則是通過(guò)對(duì)尺度孔板的丈量實(shí)現(xiàn)的，所確定的是單位象素點(diǎn)確當(dāng)量值。 .除了在傳統(tǒng)的機(jī)械制造中丈量箱體、軸類(lèi)、齒輪、凸輪、葉片、螺旋、空間、曲線(xiàn)、曲面等零件外，更能在電子、光學(xué)、鐘表、模具等行業(yè)中丈量電路板、薄膜、圖樣、小孔、狹縫、機(jī)芯等零件或要素。
三次元丈量機(jī)在丈量之間必需提高前輩行測(cè)頭的校準(zhǔn)，對(duì)于復(fù)合式丈量機(jī)來(lái)說(shuō)，校準(zhǔn)的基本概念是相同的，只是校準(zhǔn)包括兩種類(lèi)型測(cè)頭——接觸式和非接觸式。有了這樣的前提，把非接觸式和接觸式探測(cè)過(guò)程組合在一起，構(gòu)成能同時(shí)解決兩類(lèi)丈量題目的光學(xué)機(jī)械丈量中央的想法主意就顯得很天然。當(dāng)然這樣做的條件是三次元丈量?jī)x的軟件操縱系統(tǒng)能夠提供這方面的支持。其位置確定是，首先將非接觸測(cè)頭校正并做基準(zhǔn)，然后再校正接觸式測(cè)頭，則其相對(duì)位置即可確定。
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